優(yōu)越的空間分辨率

使用分析條件束流，引以為傲的二次電子圖像分辨率。（加速電壓10kV時(shí)，20nm@10nA//50nm@100nA/150nm@1μA）。與原來(lái)的電子槍?zhuān)–eB6、鎢燈絲）的結(jié)果相比，一目了然。

由于可用更大的束流得到與原來(lái)電子槍相同分辨率的圖像，所以可進(jìn)行更高靈敏度的X射線(xiàn)分析。 更加值得注意的是，束流為1μA時(shí)的SEM圖像。能夠得到1μA以上束流，而且可以壓縮到如此細(xì)的島津產(chǎn)品只有EPMA-8050G。

各種電子槍產(chǎn)生電子束的特性比較（加速電壓10kV）

大束流更高靈敏度分析

場(chǎng)發(fā)射類(lèi)型的SEM、EPMA可實(shí)現(xiàn)其他儀器所不能達(dá)到的大束流（加速電壓30kV時(shí)可達(dá)3μA）。在超微量元素的檢測(cè)靈敏度上實(shí)現(xiàn)了質(zhì)的飛躍，將元素面分析時(shí)超微量元素成分分布的可視化成為現(xiàn)實(shí)。而且，所有束流范圍內(nèi)不需要更換物鏡光闌，完全不用擔(dān)心合軸，實(shí)現(xiàn)了高度自動(dòng)化分析。

面的3個(gè)圖像為不同束流下，對(duì)不銹鋼中約1%左右Si進(jìn)行面分析的結(jié)果※。束流越大，偏差越小，越能更加清楚的確認(rèn)包含Si的范圍。

※ 分析條件：加速電壓10kV，積分時(shí)間50msec。分析花費(fèi)時(shí)間約1小時(shí)。

全部分析操作簡(jiǎn)單易懂

全部操作僅需一個(gè)鼠標(biāo)可實(shí)現(xiàn)的先進(jìn)可操作性、追求「易懂」的人性化用戶(hù)界面、搭載導(dǎo)航模式等多個(gè)新功能，將「簡(jiǎn)單易懂操作」成為現(xiàn)實(shí)。無(wú)論是初學(xué)者還是專(zhuān)家級(jí)用戶(hù)都可進(jìn)行得心應(yīng)手的操作分析。

● 從樣品導(dǎo)入到生成分析報(bào)告，操作方便。　
● 即便是第一次使用也可輕松進(jìn)行樣品定位SEM觀察。
● 優(yōu)越的可操控性，大大提高分析準(zhǔn)備工作的效率。
● 視覺(jué)上追求「易懂」的人性化用戶(hù)界面。
● 搭載導(dǎo)航模式，自動(dòng)指引直至生成分析報(bào)告。